高溫等離子體X射線譜學(xué)

第一章 緒論
第二章 等離子體X射線產(chǎn)生機(jī)制
2.1 等離子體
2.2 原子結(jié)構(gòu)與光譜
2.3 完全電離等離子體中的庫(kù)侖碰撞
2.4 軔致輻射
2.5 復(fù)合輻射
2.6 線輻射
2.7 同步輻射（碰軔致輻射）
2.8 離子激發(fā)的X射線譜
2.9 激光等離子體的X射線輻射
2.10 在托卡馬克裝置中的熱X射線譜
參考文獻(xiàn)
第三章 高溫等離子體X射線診斷技術(shù)基礎(chǔ)
3.1 X射線針孔照相
3.2 費(fèi)涅爾波帶片
3.3 高溫等離子體X射線測(cè)溫技術(shù)
3.4 利用共振線戌伴線測(cè)量度與密度
3.5 利用等電子譜線強(qiáng)度比測(cè)量激光產(chǎn)生的等離子體電子溫度
3.6 用沖擊波速度測(cè)量輻射溫度
3.7 熱稠密等離子體中的不透明度測(cè)量
3.8 X射線編碼孔成像技術(shù)
3.9 用吸收光譜學(xué)診斷激光聚變內(nèi)爆過(guò)程中的推進(jìn)器狀態(tài)參數(shù)
參考文獻(xiàn)
第四章 X射線能譜測(cè)量技術(shù)
4.1 吸收法
4.2 X射線帶通濾波器
4.3 差分法
4.4 濾波熒光法
4.5 超濾波熒光法
4.6 晶體分光法
4.7 凸面彎晶X射線攝譜儀
4.8 凸圓柱晶體分析器
4.9 橢圓面晶體/多層攝譜儀
4.10 多層膜X射線反射鏡
4.11 X射線Wolter顯微鏡—透射光柵照相攝譜儀
4.12 X射線透射光柵掃描光譜儀
4.13 濾波—反射鏡“Dante”譜儀技術(shù)
4.14 平焦場(chǎng)掠入射光柵譜儀
參考文獻(xiàn)
第五章 X射線時(shí)間與空間分布的高分辨測(cè)量技術(shù)
5.1 應(yīng)用水合電子法探測(cè)X射線脈沖時(shí)間譜
5.2 利用濾波X射線二極管測(cè)量亞納秒、亞千電子伏的脈沖X射線
5.3 高頻同軸電纜快信號(hào)傳輸及其校正
5.4 光纖傳輸
5.5 皮秒掃描相機(jī)
5.6 X射線掃描相機(jī)
5.7 軟X射線掃描相機(jī)
5.8 選通微通道板X射線分幅相機(jī)
5.9 具有選通增強(qiáng)分幅相機(jī)的軟X射線Bragg攝譜儀
……
第六章 離子源
第七章 等離子體X射線譜學(xué)的應(yīng)用