材料射線衍射和散射分析

第1章 緒論
1.1 材料結(jié)構(gòu)分析的層次和內(nèi)容
1.2 譜學的定義及其分類
1.3 射線與物質(zhì)的交互作用
1.4 衍射與散射分析發(fā)展簡史
1.5 “材料射線衍射和散射分析”的內(nèi)容和主要特色
第2章 晶體學基礎和磁結(jié)構(gòu)
2.1 晶體結(jié)構(gòu)的周期性和點陣空間
2.2 晶體結(jié)構(gòu)的點對稱和點群
2.3 晶體結(jié)構(gòu)的微觀對稱和空間群
2.4 二維晶體學和表面結(jié)構(gòu)
2.5 磁結(jié)構(gòu)與磁對稱性
2.6 倒易點陣
2.7 晶體的極射赤面投影
2.8 金屬鍵與金屬及其合金的晶體結(jié)構(gòu)
2.9 共價鍵與共價晶體的結(jié)構(gòu)
2.10 離子鍵和離子晶體的結(jié)構(gòu)
2.11 分子鍵和分子、晶體的結(jié)構(gòu)
2.12 混合鍵和復雜晶體結(jié)構(gòu)
主要參考文獻
第3章 X射線運動學衍射理論基礎
3.1 衍射幾何理論——布拉格方程
3.2 單個晶胞散射強度
3.3 單個理想小晶體散射強度
3.4 實際多晶體衍射強度
3.5 理論衍射圖譜的模擬計算實例
主要參考文獻
第4章 射線衍射散射實驗方法
4.1 普通X射線源和電子射線源
4.2 中子射線源
4.3 同步輻射光源
4.4 X射線探測器和記錄系統(tǒng)的發(fā)展
4.5 X射線衍射分析的照相法
4.6 X射線衍射分析的衍射儀法
4.7 X射線小角散射實驗裝置的發(fā)展
4.8 中子衍射和散射實驗方法
4.9 電子衍射和散射實驗方法
主要參考文獻
第5章 物相衍射分析
5.1 物相定性分析的原理和ICDD粉末衍射數(shù)據(jù)庫
5.2 人工檢索、半自動檢索和自動檢索/匹配
5.3 復相分析和無卡相分析
5.4 單晶電子衍射花樣的物相鑒定
5.5 物相定量分析的原理和強度公式
5.6 采用標樣的定量相分析方法
5.7 無標樣的定量相分析方法
5.8 大塊樣品定量相分析方法
5.9 物相分析的最新進展
主要參考文獻
第6章 點陣參數(shù)的精確測定
6.1 點陣參數(shù)測定的誤差來源
6.2 多晶樣品點陣參數(shù)的精確測定
6.3 測定點陣常數(shù)的實例
6.4 單晶樣品點陣常數(shù)的測定
6.5 點陣常數(shù)測定的幾點討論
主要參考文獻
第7章 內(nèi)應力測定與分析
7.1 應力的分類及其X射線衍射效應
7.2 單軸應力的測定原理和方法
7.3 平面宏觀應力的測定原理
7.4 平面宏觀應力的測定方法
7.5 應力測定的數(shù)據(jù)處理方法
7.6 三維應力及薄膜應力測量
主要參考文獻
第8章 多晶織構(gòu)測量和單晶定向
8.1 織構(gòu)的分類和表征
8.2 極圖測定及其分析
8.3 反極圖測定
8.4 三維取向分布函數(shù)
8.5 單晶定向與切割
8.6 晶片取向的精確測定和校準
主要參考文獻
第9章 X射線衍射譜的線形分析
9.1 X射線衍射的晶粒度寬化效應—Scherrer公式
9.2 微觀應力(應變)引起的寬化效應
9.3 堆垛層錯引起的寬化效應
9.4 微晶-微應力兩重寬化效應的分離
9.5 晶粒大小及其統(tǒng)計分布的測定
9.6 分離微晶-層錯和微應力-層錯二重寬化效應的最小二乘方法
9.7 分離微晶-微應變-層錯三重寬化效應的最小二乘方法
9.8 分離二重和三重寬化效應的計算程序
9.9 幾個具體例子
主要參考文獻
第10章 二維X射線衍射分析的原理、方法及應用
10.1 二維X射線衍射的定義
10.2 單晶樣品的二維X射線衍射術
10.3 閃爍計數(shù)管、一維位敏探測器和二維探測器記錄多晶衍射花樣的比較
10.4 多晶二維X射線衍射的原理、實驗裝置和二維探測器
10.5 多晶2D-XRD的應用
10.6 二維小角X射線散射
10.7 二維X射線衍(散)射的綜合評論和發(fā)展趨勢
主要參考文獻
第11章 X射線多重衍射的原理、方法及應用
11.1 多重衍射的基本原理
11.2 獲得多重衍射花樣的實驗方法
11.3 多重衍射花樣的指標化
11.4 多重衍射理論簡介
11.5 多重衍射的某些應用
主要參考文獻
第12章 X射線異常散射分析及應用
12.1 異常散射和選擇元素衍射
12.2 相角測定的異常散射方法
12.3 晶體學中原子位置的分攤問題
12.4 異常寬角散射和粉末差分衍射
12.5 原子有序和非晶材料研究
12.6 異常小角X射線散射
12.7 價態(tài)研究
12.8 衍射異常精細結(jié)構(gòu)
主要參考文獻
第13章 X射線和同步輻射成像術及其應用
13.1 概述
13.2 基于吸收襯度的成像術及其應用
13.3 計算機輔助層析成像術
13.4 基于相位襯度的成像術及其應用
13.5 X射線全息成像術
13.6 三位一體成像術和明場像、暗場像
13.7 同步輻射裝置中其他譜學成像術
主要參考文獻
第14章 X射線與同步輻射光譜術
14.1 X射線發(fā)射譜及其精細結(jié)構(gòu)
14.2 X射線吸收譜和近限結(jié)構(gòu)
14.3 擴展X射線吸收精細結(jié)構(gòu)
14.4 俄歇電子能譜
14.5 光電子能譜
14.6 紅外吸收譜和紫外譜
14.7 軟X射線磁圓二色譜術
14.8 Raman譜和非彈性散射譜
14.9 同步輻射中的譜學聯(lián)合裝置
主要參考文獻
第15章 晶體結(jié)構(gòu)的實驗測定
15.1 多晶樣品衍射花樣的Rietveld結(jié)構(gòu)精修
15.2 多晶樣品結(jié)構(gòu)測定的從頭計算法
15.3 單晶樣品的結(jié)構(gòu)測定
15.4 表面和界面的結(jié)構(gòu)研究
15.5 測定晶體結(jié)構(gòu)的相位襯度結(jié)構(gòu)像方法
15.6 自旋結(jié)構(gòu)和磁結(jié)構(gòu)的測定
15.7 準晶的衍射效應
主要參考文獻
第16章 晶體缺陷的衍襯成像觀察和研究
16.1 X射線貌相術的實驗方法
16.2 電子衍襯成像原理
16.3 X射線和中子衍襯貌相中的襯度
16.4 電子衍襯和X射線及中子衍襯的比較
16.5 貌相圖中缺陷像的分析
16.6 X射線衍襯貌相在單晶生長及單晶器件工藝中的應用
16.7 電子衍襯術在金屬研究中的應用
主要參考文獻
第17章 薄膜和一維超點陣材料的X射線分析
17.1 薄膜分析的X射線實驗方法
17.2 原子尺度薄膜的研究
17.3 工程薄膜和多層膜的研究
17.4 一維超點陣材料的研究
17.5 晶體不完整性、應變的衍射空間和倒易空間圖研究
主要參考文獻
第18章 非晶材料的X射線散射分析
18.1 非晶物質(zhì)及其結(jié)構(gòu)模型
18.2 各向同性非晶物質(zhì)結(jié)構(gòu)的表征
18.3 各向異性非晶物質(zhì)結(jié)構(gòu)的表征
18.4 非晶物質(zhì)結(jié)構(gòu)參數(shù)
18.5 全徑向分布函數(shù)的WAXS測定
18.6 偏徑向分布函數(shù)WAXS測定
18.7 全取向徑向分布函數(shù)和柱體分布函數(shù)的測定
18.8 EXAFS譜的數(shù)據(jù)分析和非晶局域結(jié)構(gòu)EXAFS測定
18.9 DAFS和EELFS測定非晶局域結(jié)構(gòu)
18.10 液晶的散射(衍射)研究
主要參考文獻
第19章 聚合物和高分子材料的X射線分析
19.1 聚合物材料的結(jié)構(gòu)特征和x射線分析范疇
19.2 聚合物結(jié)晶度的測定
19.3 聚合物材料的取向分布和取向度測定
19.4 長周期高分子材料的小角散射測定
主要參考文獻
第20章 納米材料和介孔材料的X射線分析
20.1 結(jié)晶納米材料的相分析
20.2 非晶納米材料的局域結(jié)構(gòu)測定
20.3 測定微結(jié)構(gòu)時各有關參數(shù)的獲得
20.4 納米晶大小、微應力及層錯幾率的測定
20.5 納米材料小角X射線散射分析原理
20.6 納米材料顆粒大小及其分布的測定
20.7 納米材料分形(fractal)結(jié)構(gòu)研究
20.8 介孔(meso-pomus)材料的x射線研究
主要參考文獻
第21章 材料動力學結(jié)構(gòu)的非彈性散射分析
21.1 動力學結(jié)構(gòu)研究理論基礎簡介
21.2 動力學結(jié)構(gòu)研究的實驗方法
21.3 結(jié)晶物質(zhì)的點陣動力學研究
21.4 非晶物質(zhì)、聚合物和生物高分子中的動力學結(jié)構(gòu)
21.5 高Tc超導體的點陣動力學研究
21.6 小結(jié)
主要參考文獻
第22章 材料結(jié)構(gòu)的綜合研究
22.1 X射線、中子、電子衍射的比較
22.2 材料中原子價態(tài)的譜學綜合研究
22.3 晶體結(jié)構(gòu)的綜合測定
22.4 晶體不完整性的綜合分析
22.5 局域結(jié)構(gòu)的綜合研究
22.6 動力學結(jié)構(gòu)的非彈性散射綜合研究
22.7 合金中元素(部分或全部)取代后原子的占位問題
索引