軟件測(cè)試技術(shù)與實(shí)踐

第1章 軟件測(cè)試概述
1.1 軟件質(zhì)量的定義
1.2 軟件測(cè)試的基本概念
1.2.1 軟件測(cè)試的定義
1.2.2 軟件缺陷的定義和種類
1.2.3 軟件測(cè)試的分類
1.2.4 軟件測(cè)試的原則
1.3 軟件測(cè)試的目的
1.4 軟件測(cè)試的生命周期
1.4.1 軟件測(cè)試的縱向過(guò)程
1.4.2 軟件測(cè)試的橫向過(guò)程
1.5 軟件測(cè)試與軟件開發(fā)生命周期
1.5.1 順序生命周期模型
1.5.2 漸進(jìn)開發(fā)生命周期模型
1.5.3 迭代生命周期模型
第2章 軟件測(cè)試方法
2.1 軟件測(cè)試方法概述
2.2 靜態(tài)測(cè)試和動(dòng)態(tài)測(cè)試
2.2.1 靜態(tài)測(cè)試
2.2.2 動(dòng)態(tài)測(cè)試
2.3 黑盒測(cè)試方法
2.3.1 黑盒測(cè)試方法概述
2.3.2 等價(jià)類劃分法
2.3.3 邊界值分析法
2.3.4 決策表法
2.3.5 因果圖法
2.3.6 各種黑盒測(cè)試方法的選擇
2.3.7 黑盒測(cè)試的優(yōu)缺點(diǎn)
2.4 白盒測(cè)試方法
2.4.1 邏輯覆蓋測(cè)試
2.4.2 路徑分析測(cè)試
第3章 軟件測(cè)試過(guò)程
3.1 概述
3.2 軟件測(cè)試計(jì)劃
3.2.1 制定測(cè)試計(jì)劃的作用和原則
3.2.2 測(cè)試計(jì)劃的內(nèi)容
3.3 測(cè)試用例
3.3.1 測(cè)試用例定義
3.3.2 測(cè)試用例在軟件測(cè)試中的作
3.3.3 測(cè)試用例設(shè)計(jì)的基本原則
3.3.4 測(cè)試用例設(shè)計(jì)應(yīng)注意的問(wèn)題
3.3.5 測(cè)試用例的編寫標(biāo)準(zhǔn)
3.4 軟件測(cè)試的過(guò)程模型
3.4.1 V模型
3.4.2 W模型
3.4.3 H模型
3.4.4 各種測(cè)試模型的使用
3.5 軟件測(cè)試實(shí)施過(guò)程
3.5.1 單元測(cè)試
3.5.2 集成測(cè)試
3.5.3 確認(rèn)測(cè)試
3.5.4 系統(tǒng)測(cè)試
3.5.5 驗(yàn)收測(cè)試
3.5.6 回歸測(cè)試
第4章 bug跟蹤管理
4.1 軟件缺陷的定義
4.2 產(chǎn)生缺陷的原因
4.3 缺陷如何穿透測(cè)試
4.4 缺陷的分類
4.5 缺陷的生命周期
4.6 缺陷的嚴(yán)重程度和優(yōu)先級(jí)
4.7 缺陷的描述
……
第5章 軟件自動(dòng)化測(cè)試基本理論
第6章 功能測(cè)試
第7章 面向?qū)ο蟮膯卧獪y(cè)試
第8章 負(fù)載測(cè)試
第9章 測(cè)試流程自動(dòng)化
第10章 軟件質(zhì)量保證與軟件測(cè)試
第11章 軟件測(cè)試案例
附錄A 術(shù)語(yǔ)表
附錄B IEEE模板
參考文獻(xiàn)