集成電路開發(fā)與測試（初級）

定　價：￥48.00

作　者：	呂坤頤，夏著，杭州朗迅科技有限公司組編
出版社：	高等教育出版社
叢編項：
標(biāo)　簽：	暫缺

購買這本書可以去

ISBN：	9787040553260	出版時間：	2021-01-01	包裝：	平裝
開本：		頁數(shù)：	232	字?jǐn)?shù)：

內(nèi)容簡介

　　本書是1+X職業(yè)技能等級證書配套教材，對應(yīng)于“集成電路開發(fā)與測試”職業(yè)技能等級證書，涵蓋初級證書相關(guān)工作領(lǐng)域，由版職業(yè)素養(yǎng)、晶圓制程、晶圓測試、集成電路封裝、集成電路測試、集成電路應(yīng)用6個項目組成，針對見習(xí)流片操作員、見習(xí)外觀檢驗員、見習(xí)測試員、見習(xí)生產(chǎn)保障技術(shù)員等崗位涉及的工作領(lǐng)域和任務(wù)所需的職業(yè)技能要求介紹相關(guān)理論知識和實操內(nèi)容。本書可作為“集成電路開發(fā)與測試”1+X職業(yè)技能等級證書（初級）的培訓(xùn)認(rèn)證教材，也可作為中職學(xué)校及高等職業(yè)院校相關(guān)實踐環(huán)節(jié)教學(xué)用書及集成電路相關(guān)行業(yè)及企業(yè)員工的崗前培訓(xùn)教材，還可供工程技術(shù)人員參考使用。