芯片驗證調(diào)試手冊：驗證疑難點(diǎn)工作錦囊

　　資深芯片驗證專家劉斌（路桑）圍繞目前芯片功能驗證的主流方法—動態(tài)仿真面臨的日常問題展開分析和討論。根據(jù)驗證工程師在仿真工作中容易遇到的技術(shù)疑難點(diǎn)，本書內(nèi)容在邏輯上分為 SystemVerilog疑難點(diǎn)、UVM 疑難點(diǎn)和 Testbench 疑難點(diǎn)三部分。作者精心收集了上百個問題，給出翔實的參考用例，指導(dǎo)讀者解決實際問題。在這本實踐性很強(qiáng)的書中，作者期望能夠?qū)⒆髡吲c諸多工程師基于常見問題的交流進(jìn)行總結(jié)，以易讀易用的組織結(jié)構(gòu)呈現(xiàn)給讀者，目的是幫助芯片驗證工程師更有效地處理技術(shù)疑難點(diǎn)，加快芯片驗證的調(diào)試過程。

　　劉斌（路桑），畢業(yè)于西安交通大學(xué)微電子專業(yè)，瑞典皇家理工學(xué)院芯片設(shè)計專業(yè)碩士。擁有超過50，000名驗證從業(yè)訂閱者的路科驗證創(chuàng)始人，主持國內(nèi)前沿的芯片驗證架構(gòu)規(guī)劃和方法學(xué)研究，擔(dān)任過數(shù)款十億門級通信芯片的驗證經(jīng)理，目前獨(dú)立從事芯片驗證技術(shù)咨詢。同時在西安電子科技大學(xué)長期客座授課，以及開展芯片驗證職業(yè)在線教育為業(yè)界輸送大量人才。著有《芯片驗證漫游指南》。可通過bin.liu@rockeric.com與作者取得聯(lián)系。