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航天集成電路測(cè)試技術(shù)

航天集成電路測(cè)試技術(shù)

定 價(jià):¥98.00

作 者: 蔣順成, 王勇
出版社: 中國(guó)宇航出版社
叢編項(xiàng):
標(biāo) 簽: 暫缺

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ISBN: 9787515921860 出版時(shí)間: 2025-05-01 包裝: 平裝-膠訂
開本: 16開 頁(yè)數(shù): 字?jǐn)?shù):  

內(nèi)容簡(jiǎn)介

  本書由中國(guó)航天電子技術(shù)研究院組織編寫,首先從宏觀層面闡述了集成電路測(cè)試的基礎(chǔ)分類和發(fā)展現(xiàn)狀,進(jìn)而深入分析了在技術(shù)推動(dòng)、需求牽引雙輪驅(qū)動(dòng)下集成電路測(cè)試的發(fā)展,再?gòu)奈⒂^層面將航天集成電路測(cè)試方法分門別類,結(jié)合大量寶貴實(shí)例,對(duì)其進(jìn)行了全面闡述。本書旨在系統(tǒng)固化多年來(lái)航天集成電路測(cè)試的技術(shù)經(jīng)驗(yàn)與成果,推動(dòng)其規(guī)范發(fā)展,提升測(cè)試人員實(shí)操水平與工作效率,完善航天集成電路人才培育體系。

作者簡(jiǎn)介

  蔣順成,曾獲國(guó)家科技進(jìn)步三等獎(jiǎng)1次、?。ú浚┘?jí)科技進(jìn)步一等獎(jiǎng)1次和三等獎(jiǎng)2次、國(guó)防科工委科技進(jìn)步二等獎(jiǎng)1次,擁有國(guó)家專利1項(xiàng)。

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